導體材料電阻率檢測儀  型號：TDW-02

本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關規定設計，它主要由電器測量部份(主機)及四探針探頭組成。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度   
主要技術指標: 。
對0.1～199.9Ω*cm標準樣片的測量誤差不過±5%。
(1)測量范圍：可測量電阻率：0.1～199.9Ω*cm。
zui大電阻測量誤差(按JJG508-87進行)：
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%
適合測量各種厚度的硅片，可測晶片直徑(zui大)
園形Ф100mm           方形230×220mm
 (2)恒流源：
 輸出電流：0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。恒流精度：各檔均優于±0.1%
(3)直流數字電壓表
 測量范圍：0.1～199.9mv    靈敏度：100μv   準確度：0.2%(±2個字)  
 當沒有測量時，表上數字不歸零屬于正常，是其自身處于自動掃描狀態
(4)供電電源：AC：  220V ±10%(保護隔離)     50/60HZ   功率2W
(5)四探針探頭； a.鎢鋼探針或高速鋼探針    b.間距1±0.01mm    
c.針尖緣電阻≥100mΩ  d.機械游移率≦1.0%  e.探針壓力 12-16牛頓(總力)
(6) 使用環境：
 溫度23±2℃，相對濕度≤80%  無較強的電場干擾    無強光直接照射
(7) 使用方法；
a. 使用儀器前將電源線、測試筆聯接線與主機聯接好，電源線插頭插入～220V座插后，開啟背板上的電源開關，此時前面板上的數字表、發光二管都會亮起來。探針頭壓在被測單晶上，右邊的表顯示從1、4探針流入單晶的測量電流，左邊的表顯示電阻率或2、3探針間的電位差。電流大小通過旋轉前面板右上方的電位器旋鈕加以調節b.  校準設備：厚度小于3.98mm的(本公司提供厚度小于3.98mm的標準電流修正系數表)取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀。 
c.測試: 用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可.
 d． 校驗：在測試過程中要求每隔2小時用標準樣塊校準一次設備
一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭  的  清理清潔工作
 維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑(1234)位置排列。

 導體材料電阻率檢測儀 

產品名稱：低溫恒溫槽 恒溫槽 產品型號：WGDCZ

低溫恒溫槽 恒溫槽型號：WGDCZ

 特點： 
微機溫控恒溫，采用單片機控制，自整定PID 調節；采用進口日本產（PT100）鉑電阻測溫，控溫精度高，溫度波動小；采用優質全封閉技犬的壓縮機，制冷效率高．嗓聲低。儀器工作穩定可靠，操作方便安全。 
該產品具有以下優點： 
．恒溫槽采用單片機溫控，自整定控制技術，控溫精度高。 
．采用全封技術壓縮機，降溫快，嗓聲低。 
．設定溫度和測量溫度用二組數字窗口分別顯示。 
．循環泵可進行恒溫液體對外循環。 
．具有斷偶保護功能。 
．具有上下限保護功能。 
低溫恒溫槽廣泛適用于生物工程，醫藥，食品，化工，冶金．石油等領域。為用戶提供一個高精度的，受控的，溫度均勻的恒溫源。是研究所，高等院校，工廠實驗室．質檢部門*的產品。 
本機型OC02Z 是為各類阿貝折射儀配套適用而設計的產品．具有溫度恒定，體積小．操作簡便等優點，性價比高。 
主要技術參數： 
溫度范圍：4 ℃ 一95 ℃  
顯示分辨率：0.1 ℃  
溫度波動度：± 0.1℃ ，介質為水 
內膽容積：2 L 
泵循環方式：外循環 
泵流量：4L  
控制方式：微機溫控，PID調節．Pt100 測溫 
制冷方式：壓縮機 
今工作電壓：220V±22V . 50HZ 450W  
儀器尺寸：360mm × 400mm × 265mm