數字式硅晶體少子壽命測試儀   型號：ZD-LT-100C
為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導法研制出了數字式少子壽命測試儀。                                                       
數字式硅晶體少子壽命測試儀        該設備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計制造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業已運用了三十多年，積累了豐富的使用經驗，經過數次全國十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量；也可對硅片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。
數字式  
DZ-LT-100C數字式有以下特點：
1、 可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面進行測量。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。
2、  可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。
3、配備軟件的數字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時顯示動態光電導衰退波形，并可聯用打印機及計算機。
4、配置兩種波長的紅外光源：
a、紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準確測量晶體少數載流子體壽命。
b、短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強較強，有利于測量低阻太陽能級硅晶體。
5、測量范圍寬廣
測試儀可直接測量：
a、研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。
b、拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝范圍內的硅單晶、鍺單晶拋光片。
壽命可測范圍     0.25μS—10ms

產品名稱：電流型紫外線強度變送器 紫外線強度監測儀 水中紫外線強度儀 產品型號：UVA4-20mA

電流型紫外線強度變送器 紫外線強度監測儀 水中紫外線強度儀 型號：UVA4-20mA

主要功能
　　♦　功能：提供當前紫外線殺菌燈管的對強度值。
　　技術參數
　　♦　量　　程：5000μW/cm2（可根據客戶要求定制）；
　　♦　光譜范圍：210～380nm；
　　♦　固定方式：M26×2 (可根據客戶要求定制)；
　　♦　設計壓力：10kgf/cm2 ；
　　♦　外　　殼：不銹鋼；
　　♦　工作電源：DC7.5～35V；
　　♦　輸出信號：4～20mA；
　　♦　連接電纜：1.5米兩芯屏蔽線（兩線制電流環）。
　　應用領域
　　♦　紫外線水處理器（包括清水、中水和污水消毒）；
　　♦　紫外線空氣殺菌器；
　　♦　UV固化。
　　現場調試
　　♦　穩定運行　在現場安裝好紫外線消毒器和紫外線強度變送器探頭，并接通進、出水路，接通燈管電源，待燈管工作穩定后（15～20分鐘）再行調節。
　　♦　接入調節　直接接入PLC或單片機系統的A/D轉換模塊進行調試即可。 

產品名稱： 漏電開關檢測儀 漏電開關測試儀 漏電保護器檢測儀  產品型號：5406

 漏電開關檢測儀  漏電開關測試儀  漏電保護器檢測儀 型號: 5406  
產品特點  
漏電開關測試儀主要用于測試漏電保護器的漏電動作電流,漏電不動作電流以及漏電動作時間，適用于檢測漏開關/電源插頭線的導通性,緣,線芯高壓性能。 　　漏電開關測試儀可廣泛應用于供電部門，農電部門，漏電保護器生產廠家，建筑、礦山、機床等行業的勞動安檢部門以及廣大電工。  
           
技術參數   
 漏電檔位10/20/30/200/300/500mA  
 故障動作時間zui大1000ms  
 精度動作電流：±8%  
動作時間：0.6±4dgt  
 過壓保護有  
 PN/PE判別有  
 回路檢測有  
 相位選擇有  
 工作電壓220V±15%  
380V±15%  
 自動測量有  
 啟動電壓選擇有  
 測量方式在線  
 工作環境0~60℃  
 包裝規格   
 電源不需要電池  
 產品凈重575g   
 產品尺寸163*155*80mm   
 包裝方式背包包裝  
 標準外箱容量6PCS   
 標準外箱尺寸60*36*37.5cm   
 標準外箱毛重12.5KG